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查看: 2875|回复: 8

[求助] 请教:测试时小数锁相环噪声恶化的问题

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发表于 2012-6-19 14:12:58 | 显示全部楼层 |阅读模式

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设计了一个小数锁相环,CP和数字部分的电源都是分开的,可以外部接。测试时,整数模式,相位噪声比较好。可是只要把小数一打开,整个噪底就明显抬上了,带内噪声恶化了二十个dB左右。把CP和数字部分的电源通过外部接入的方式都无法改进。      请坛子里的高手帮忙解决一下啊,谢了,急啊.
 楼主| 发表于 2012-6-19 17:19:57 | 显示全部楼层
哪位高手帮帮忙啊
 楼主| 发表于 2012-6-20 10:22:12 | 显示全部楼层
不能沉啊
发表于 2012-6-20 16:50:10 | 显示全部楼层
根据理论:PFD和CP的非线性会导致Sigma-Delta的高频噪声折回到带内。
发表于 2012-6-20 19:24:11 | 显示全部楼层
ls的正解
发表于 2012-6-20 22:29:48 | 显示全部楼层
本帖最后由 bn0925 于 2012-6-20 23:00 编辑

楼主说的是噪底被抬高20dB,不是带内噪声被抬高20dB.
我遇到过类似的问题,以前做过一个全数字PLL,VCO是环振。当所有数字部分disable的时候,也就是说VCO是在free-runing的状态,没有什么问题。但是只要enable数字部分,就出现了跟楼主一样的情况,噪底恶化大概10dB。至今没有找到原因。
发表于 2012-6-21 08:22:02 | 显示全部楼层
衬底耦合
 楼主| 发表于 2012-6-26 13:30:37 | 显示全部楼层
没想到这么多人回啊,先谢谢各位了。
   这两天的测试发现,是带内的噪声被抬高了20dB左右,之前是因为带宽设置的太宽,所以看起来像是噪底被抬高了。理论上是如kook309所说,PFDCP的非线性造成,但是单独仿真PFDCP的性能是没问题的,因为之前做过一版锁相环,没有这个问题。而这一版与上次的差别在于CP和VCO。
    CP的性能与之前的仿真对比发现,性能差不多;而VCO经过开环和闭环测试发现,带外的噪声没有因为小数模块的打开而变差;所以现在不知道问题所在。
     再次,求高手提供分析思路,谢谢。
发表于 2019-10-12 17:56:01 | 显示全部楼层
PLL噪低被抬高20dB,还是接收机噪声被抬高20dB ?
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