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[讨论] DDR2_JESD79-2F:片外校准ODC的理解问题

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发表于 2012-5-16 19:22:56 | 显示全部楼层 |阅读模式

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DDR2_JESD79-2F:片外校准ODC的理解问题
在看《内存原理与时序》的时候读到OCD这块,下面这段文字理解的不是特别清楚:
“OCD 的主要用意在于调整I/O 接口端的电压,来补偿上拉与下拉电阻值。目的是让DQS 与DQ 数据信号之间的偏差降低到最小。调校期间,分别测试DQS 高电平/DQ 高电平,与DQS 低电平/DQ 高电平时的同步情况,如果不满足要求,则通过设定突发长度的地址线来传送上拉/下拉电阻等级(加一档或减一档),直到测试合格才退出OCD 操作。”
特别是“如果不满足要求,则通过设定突发长度的地址线来传送上拉/下拉电阻等级(加一档或减一档),直到测试合格才退出OCD 操作。”这段文字,怎么个测试合格才是合格,是怎样评判的?这个片外校准的过程不是在上电初始化的过程EMRS(1)的时候进行操作就完成了吗?
而且OCD的电阻校准过程是怎么去理解的,按照规范P36页给出的的资料信息在实际应用中是按照那些规则进行操作?
信息给出的四种校准模式:Drive(1)、Drive(0)、Adjust mode与OCD calibration default模式;这些在实际应用中是怎样理解使用的呢?
而且按照规范P35页提到的,进行ODC操作要使用突发BL=4,就是在ODC校准前先发一个MRS指令,然后满足了至少200个时钟周期后进行ODC校准(理解的就是发EMRS(1)指令了)
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