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楼主: hondgen

[求助] 如何抑制载流子的速度饱和

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发表于 2013-6-16 22:50:29 | 显示全部楼层
回复 10# gy118

知道的真多
发表于 2013-6-18 02:55:59 | 显示全部楼层
本帖最后由 ygchen2 于 2013-6-18 03:03 编辑

一点个人理解
1。载流子速度饱和,是载流子在材料中传输的一个基本特性,实质上是在电场很强时载流子平均能量升高,使载流子通过散射损失能量与从电场获取能量差不多快时,载流子漂移速度不再随电场增强而增大,从而达到其漂移速度上限。这个速度被称作饱和速度,而此时的电场强度称为临界电场强度。
2。临界电场强度可以表示为载流子饱和速度与迁移率的比值Ec=vsat/ueff。在MOS管中,高的横向电场会导致载流子有效迁移率减小,但是相应临界电场强度却会增高。(Sodni etal.,1984)
3。在BSIM模型中,由于速度饱和效应导致的器件Ids特性影响因子好像是(1+ueff*Vds/(vsat*L))。所以,就纯粹载流子速度饱和造成的影响讲,横向电场并没有象前面几位讲的那么大,主要还是VDS造成的纵向(载流子漂移方向)电场造成的。当然(VGS-VT)对Ids是有很大影响,但不尽与载流子速度饱和造成的影响有直接关系,更多是因为其对载流子有效迁移率的影响,这个效应在电场远没达到载流子速度饱和前早就表现出来了。

仅供参考。。。
发表于 2013-6-18 13:51:13 | 显示全部楼层




   器件级的解释,很到位。BSIM模型毕竟只是模型,并不完整描述物理过程。
发表于 2013-6-19 07:29:18 | 显示全部楼层
我来谈谈对这个问题的看法,从实际的设计角度。基于bsim模型。

首先,bsim模型是实际测试的高度拟合,是表现实际管子工作的情况。不是什么物理理论,近似拟合。

那么从设计者的角度,当Vgs-Vt大于某一个值时(gm变得constant),管子进入速度饱和区。这个理解是非常practical的,不管vds是什么。

无论是在弱反,中反,还是强反区,都是不存在速度饱和的。因为,当vds足够大时,Substrate Current Body Effect , ids进入exponential 区。这个区和速度饱和不搭边。由于vds,vdb足够大,此时,寄生diode会影响电流,此时就不是mosfet。

所谓的速度饱和,是和w,和vgs-vth有一次正比关系的区域。因此,速度饱和只和vgs-vth有关。并且器件是mosfet状态,不是jfet 或者diode。

至于在速度饱和区,vds只决定工作在饱和区还是线性去。
发表于 2014-7-22 11:38:26 | 显示全部楼层
厉害厉害, 学习了~~
发表于 2015-6-24 17:41:16 | 显示全部楼层
回复 12# ygchen2


   散射的存在,导致速度会在某一个值趋于饱和,器件级的解释赞一个~~~那个横向电场和纵向电场是不是有问题。。。个人理解就是Vds影响的吧。。。如果只有栅极电压,没有漏极电压,载流子都不动了,怎么会有饱和捏。。。
发表于 2019-5-23 18:11:26 | 显示全部楼层
thanks.
发表于 2019-12-6 23:33:01 | 显示全部楼层
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