请帮忙下载IEEE standard 1149.7-2009

risccpu · 发表于 2011-12-2 23:15:29

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请帮忙下载以下IEEE standard，万分感谢！
1149.7-2009
IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

risccpu · 发表于 2011-12-3 00:16:56

虽然目前IEEE 1149.1是业界公认的标准，半导体制造商和测试系统供应商正在逐渐采用IEEE 1149.7(Compact JTAG)作为新的测试/调试接口。从Compact JTAG的销售人员口中和Freescale、TI这样的业界领导者的公告里都可以得知，世界上主要的半导体供应商都在他们的芯片上添加了Compact JTAG接口。像Lauterbach这样的开发系统供应商正在对Compact JTAG提供支持。Nexus 5001论坛也正在把Compact JTAG加入IEEE-ISTO 5001-2010标准中。
把Compact JTAG添加到芯片中可以确保片上测试和调试可以从那些正在增长的拥有Compact JTAG功能的半导体测试设备和开发系统中获益.

飞扬紫百合 · 发表于 2017-9-29 09:19:40

同求啊

blaton · 发表于 2021-9-13 17:42:29

我下好了，附件就是

zoe0615 · 发表于 2021-12-24 15:31:39

Thank you very much.

sylflying · 发表于 2022-4-17 00:24:37

blaton 发表于 2021-9-13 17:42
我下好了，附件就是

多谢分享

tvman2015 · 发表于 2022-7-4 11:38:19

very good, thx

刘大 · 发表于 2023-3-28 23:54:51

THANK YOU

笨笨543 · 发表于 2023-4-28 12:26:56

Thank you very much.

janelea · 发表于 2023-10-13 17:19:38

感谢分享，好人一生平安！大富大贵！

[求助] 请帮忙下载IEEE standard 1149.7-2009

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