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[求助] 请帮忙下载IEEE standard 1149.7-2009

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发表于 2011-12-2 23:15:29 | 显示全部楼层 |阅读模式

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请帮忙下载以下IEEE standard, 万分感谢!
1149.7-2009
IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
 楼主| 发表于 2011-12-3 00:16:56 | 显示全部楼层
虽然目前IEEE 1149.1是业界公认的标准,半导体制造商和测试系统供应商正在逐渐采用IEEE 1149.7(Compact JTAG)作为新的测试/调试接口。从Compact JTAG的销售人员口中和Freescale、TI这样的业界领导者的公告里都可以得知,世界上主要的半导体供应商都在他们的芯片上添加了Compact JTAG接口。像Lauterbach这样的开发系统供应商正在对Compact JTAG提供支持。Nexus 5001论坛也正在把Compact JTAG加入IEEE-ISTO 5001-2010标准中。
  把Compact JTAG添加到芯片中可以确保片上测试和调试可以从那些正在增长的拥有Compact JTAG功能的半导体测试设备和开发系统中获益.
发表于 2017-9-29 09:19:40 | 显示全部楼层
同求啊
发表于 2021-9-13 17:42:29 | 显示全部楼层
我下好了,附件就是

IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Bo.pdf

30.52 MB, 下载次数: 131 , 下载积分: 资产 -9 信元, 下载支出 9 信元

点评

赞赞赞!  发表于 2021-11-25 17:48
发表于 2021-12-24 15:31:39 | 显示全部楼层
Thank you very much.
发表于 2022-4-17 00:24:37 | 显示全部楼层


blaton 发表于 2021-9-13 17:42
我下好了,附件就是


多谢分享
发表于 2022-7-4 11:38:19 | 显示全部楼层
very good, thx
发表于 2023-3-28 23:54:51 | 显示全部楼层
THANK YOU
发表于 2023-4-28 12:26:56 | 显示全部楼层

Thank you very much.
发表于 2023-10-13 17:19:38 | 显示全部楼层
感谢分享,好人一生平安!大富大贵!
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