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[求助] 请教个关于DFT test mode的问题

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发表于 2011-11-21 15:27:19 | 显示全部楼层 |阅读模式

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小弟刚接触dft不久,还望大侠们赐教
在inset dft插好chain之后,更改current_test_mode为啥会导致report出来的converage不一样呢?
从电路的角度看的话,对于已经确定好的电路来说每个regsiter是否可控不是已经定了么?
发表于 2011-11-21 15:42:22 | 显示全部楼层
不同的mode,不同的path,涉及到的FF就不一样
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 楼主| 发表于 2011-11-21 16:14:30 | 显示全部楼层
2楼的意思是同样的插好chain的电路,在不同的mode下每条chain是不一定相同的么?
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发表于 2011-11-21 16:15:17 | 显示全部楼层
有道理,
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 楼主| 发表于 2011-11-21 17:06:22 | 显示全部楼层
谁能给个电路图说明下么??
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发表于 2022-2-6 18:10:42 | 显示全部楼层
不同测试模式需要迭代才能到达需要的coverage
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