memory bist at-speed testing

杀猪的日子 · 发表于 2011-10-11 10:56:09

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不知道大家是否了解 memory at speed testing ?

大体思路和概念是怎样的，我是新手，还望多多指教，非常感谢

bingling512 · 发表于 2011-10-11 14:14:05

at speed就是测试时钟频率用memory实际工作时的时钟频率。

creese · 发表于 2011-10-11 16:15:17

需要多个输入时钟，对整体设计的timing和端口复用情况有一定的挑战。

杀猪的日子 · 发表于 2011-10-13 10:53:23

需要多个输入时钟？不能用PLL时钟吗？

杀猪的日子 · 发表于 2011-10-13 10:55:19

需要多个输入时钟，对整体设计的timing和端口复用情况有一定的挑战。
creese 发表于 2011-10-11 16:15

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您好，感谢你的回答。

你说的多个输入时钟是说必须从pad输入吗？占用pad个数？所以要端口复用？

creese · 发表于 2011-10-13 16:09:18

可以从PAD进入也可以用PLL，占用PAD个数，端口复不复用看你的设计要求。不复用最简单

杀猪的日子 · 发表于 2011-10-14 14:01:07

hi,creese
如果可以用PLL那就比不用占PAD,假如用PLL function clock,那么如何来做呢？bist_clock直接连接到pll?
在bist mode下？

david_sung · 发表于 2011-10-19 17:33:35

可以参考《基于片上PLL时钟的at—speed测试设计》，去网上找找看吧

杀猪的日子 · 发表于 2011-10-20 13:39:30

楼上，你说的不是memory bist at speed testing 吧

laywen987 · 发表于 2017-5-17 15:35:53

长知识了，学习了

[原创] memory bist at-speed testing