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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › J750 Scan test document

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楼主: gangersun

[资料] J750 Scan test document

发表于 2017-6-28 10:21:15 | 显示全部楼层

全英文的，有时间看看

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发表于 2017-7-4 23:54:03 | 显示全部楼层

Thanks a lot

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发表于 2017-10-13 01:18:07 | 显示全部楼层

J750_scan_test.ppt (809.5 KB)

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发表于 2017-10-25 16:27:44 | 显示全部楼层

拜读一下先是否有作用

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发表于 2018-4-24 18:48:20 | 显示全部楼层

thanks for sharing

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发表于 2018-4-27 11:27:41 | 显示全部楼层

J750_scan_test.ppt (809.5 KB)

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发表于 2018-4-27 15:17:50 | 显示全部楼层

谢谢分享

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发表于 2018-11-8 17:58:19 | 显示全部楼层

J750 Scan test document, welcome to download it!

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发表于 2018-12-14 18:09:58 | 显示全部楼层

so good

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发表于 2018-12-14 18:22:21 | 显示全部楼层

have a look,thanks!

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