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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › Analog Layout（版图） › Layout资料区 › calibre提取参数及其后仿真使用说明
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楼主: cxl666

[资料] calibre提取参数及其后仿真使用说明

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boilice
发表于 2011-8-10 22:30:00 | 显示全部楼层
thanks
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robin0338
发表于 2011-8-11 14:05:54 | 显示全部楼层
謝謝分享!!
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2008ql
发表于 2011-8-17 10:31:01 | 显示全部楼层
谢谢  分享
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doisimn03
发表于 2011-8-19 00:10:53 | 显示全部楼层
thank
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autumnyun
发表于 2011-8-19 16:34:03 | 显示全部楼层
多谢多谢！！
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xiaohu311
发表于 2011-8-21 10:32:35 | 显示全部楼层
讲解很详细 但smic的65nm工艺PDK里面提供的rule文件编译时有问题 大家有没有遇到类似的问题？
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shikaicool
发表于 2011-8-23 13:42:10 | 显示全部楼层
THANKS
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liqiaoyongdan
发表于 2011-8-23 17:51:04 | 显示全部楼层
这个文档一点儿介绍都没有
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hannyfish
发表于 2011-8-24 12:12:59 | 显示全部楼层
谢谢楼主
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关东客
发表于 2011-8-24 16:11:30 | 显示全部楼层
学习学习！
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