后端面试--每日一题（029）

八部众生 · 发表于 2011-6-22 01:14:35

回复陈涛

一般来说stack at测的时候都是慢freq的，所以相对来说power 应该不会比func的时候大吧 ...
lz1920 发表于 2011-6-18 23:50

登录/注册后可看大图

虽然是slow speed的测试，但如果不控制pattern的翻转，那么可能扫入010101010……序列，这就导致这条chain上所有的ff都会翻转，从而导致每扫一拍，这些ff后面的组合逻辑都会跳变，虽然是slow speed，但其瞬时短路功耗将非常大，也就是说，虽然频率低，平均IR降不大，但dynamic的IR降将非常大，甚至比做mbist的时候还要大很多。

八部众生 · 发表于 2011-6-22 01:16:25

DFT工具控制功耗，其实也就是避免产生0101010101……这样的pattern，如果产生1111100000……这样的序列，瞬态短路功耗就会被降低

lz1920 · 发表于 2011-6-23 13:16:32

回复 22# 八部众生

学习了,多谢!!

tonyhard · 发表于 2019-10-9 13:50:30

学习了，谢谢。

silencell · 发表于 2022-5-5 19:33:04

学习了

Kingwhale · 发表于 2022-6-25 10:31:33

mark 收藏

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[原创] 后端面试--每日一题（029）

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