ATPG 与 MBIST 的配合使用方法

david_sung · 发表于 2011-8-19 15:01:31

ATPG只是测试pattern产生的方式，用来在ATE上run的，而MBIST只是memory的一种比较流行的测试方法

fu2006 · 发表于 2011-8-24 12:36:32

顶起来啊先！！

bentengd · 发表于 2011-8-24 22:18:07

11楼不是已经讲了啊，顶

bingling512 · 发表于 2011-8-25 19:58:39

MBIST主要目的是测试memory自身或者说memory内部的缺陷，针对不同类型的fault有不同的测试算法，一般会选择使用多个算法，mbist的测试会遍历所有的存储空间。
但是mbist测试时memory使用的地址，片选，数据等信号走的是测试路径，功能路径不能覆盖。比如地址：正常功能使用A，测试使用TA，通过一个mux选择（这个mux有的在compile memory的时候就可以生成，有的需要自己添加），所以memory测试时A这条路径不能覆盖，需要通过ATPG来覆盖。

ATPG主要是测试一般的数字逻辑，组合逻辑，寄存器等。同时可以覆盖memory周边的那些mbist测试时不能覆盖的接口电路。这个需要通过增加collar电路或者用ram_sequential来实现。

ljcfcb · 发表于 2011-12-19 19:21:46

学习了！！！

kresit · 发表于 2012-2-4 15:03:03

top up...

icldc · 发表于 2012-2-8 14:19:41

大家多讨论，取长补短

fl_5588 · 发表于 2012-2-10 19:31:39

楼上已经回答的不少了。MBIST就是存储器的测试。现在在搞扫描链插入，测试寄存器的，用到了ATPG。

tyhit · 发表于 2016-9-27 14:27:10

遇到一个实际mbist裸片测试的问题：芯片在低压（90%）下有两块memory的mbist测试固定fail，正常电压下能通过测试，但是设计中对全芯片ir drop仿真是按照正常电压下的结果signoff。请问在不改变测试条件的前提下，怎么避免这种mbist测试fail的问题？

fleeflower · 发表于 2016-9-27 16:13:58

atpg是通过输入激励来测试芯片数字逻辑，寄存器逻辑门之类的，这一类的实现是有覆盖率区别的，输入的激励类型越多，覆盖率越高，但一般不会达到100%，总有些奇怪的逻辑可能错误而没有验证到。
   但mbist是不需要外部激励的，具体实现有不同的算法，以及独立的bist实现模块，针对某一类型的check，覆盖率通常都是100%。
   一般来讲，atpg的时候，是不会对memery进行check，test_mode下如果是atpg的mode，会在mem的输出进行控制，或者是一个定值，或者是某一个输入原样输出。
   两个加起来才算把数字部分全部测到。
   个人理解，欢迎指正

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