ATE 能够测试芯片内部的信号吗？

crazy4u · 发表于 2011-2-14 10:23:04

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在生产测试过程中，自动测试机ATE能够测试芯片内部的信号吗？

哪位大侠知道，回答一下吧

wind1272 · 发表于 2011-2-15 17:07:19

除非晶片內部的訊號有經過處理
拉這些訊號拉到ＰＡＤ上才有辦法看（例如ＤＦＴ流程）
否則晶片內部就是一個黑盒子，沒辦法看到訊號

crazy4u · 发表于 2011-2-16 10:56:21

是做了DFT的，好像确实不能测试内部的，只能测试pin上面的

Hvyikey · 发表于 2011-3-16 19:19:10

使用 DFT 的话不是可以通过扫描链读出的寄存器的值的正确性判断出该寄存器的各驱动信号是否正常，如果不正确的话，通过算法和大量的测试矢量验证错误点在哪里？所以，大部分内部信号应该是可测的。我的理解有错误吗？如果有错，希望朋友们能指出错误的地方？

xhf811 · 发表于 2011-3-17 15:09:17

ATE是用来加载测试向量从而测试芯片好坏的

[求助] ATE 能够测试芯片内部的信号吗？