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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › IC test golden book
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楼主: lanli7

[资料] IC test golden book

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quee
发表于 2010-9-14 16:24:12 | 显示全部楼层
恩，不错。。
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quee
发表于 2010-9-14 16:25:19 | 显示全部楼层
忘了说声谢谢了。。
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lanli7
 楼主| 发表于 2010-9-16 12:27:39 | 显示全部楼层
虽然是DFT的资料，但是对测试工程师同样重要。

diagnose_real_scan_chain_defects.pdf

372.79 KB, 下载次数: 17 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元
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zh123456789
发表于 2010-10-24 21:46:02 | 显示全部楼层
谢谢啊。
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guoleitiger
发表于 2010-10-26 08:51:03 | 显示全部楼层
顶顶顶顶顶顶顶顶
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gaconht
发表于 2010-10-26 11:12:01 | 显示全部楼层
a document good, thanks
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wangjunweiair
发表于 2010-10-26 20:39:49 | 显示全部楼层
ddddddddddddddddddd
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dehanpelar
发表于 2010-10-28 14:31:09 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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blueinspur
发表于 2010-10-29 16:08:29 | 显示全部楼层
好东西啊，thanks
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blueinspur
发表于 2010-10-29 16:11:10 | 显示全部楼层
回复 21# blueinspur


    thanks 啊
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