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本帖最后由 creese 于 2010-8-12 09:24 编辑
最近的一个项目，scan部分出了些问题，最后才找到，这算是积累了一些经验，在这里总结一下。
首先说一下问题 ，原来的scan仿真平台用的是DPV平台，由于我一开始对这个平台不熟悉，而以前用过Dual pattern flow，所以用了其中的parallel平台进行仿真，问题就出在了我只用了parallel平台进行仿真，而且就我目前所知道的来看这个平台无法仿出一些信息，至于有哪些信息我现在还不能确认，至少是不能仿出load_unload的timing信息吧。总之由于没有用serial进行仿真，导致pattern中的X态没有被发现，直到片子送出去了在后来的仿真过程中才发现这个问题 ，这便产生了很大的隐患，具体的隐患原因在于：
尚未确定这些X pattern是如何产生的，很可能是某些IP产生的，如flash IP,那么就有可能产生的pattern会无意中写入flash而改变其中的内容，我们的flash中有一块区域作为otp而存在，在中测是向其中写入数据，如果scan在otp初始化之后进行，那么就有可能改变其中的数据，这样就会产生不确定的结果。虽然在ATE机上这些X pattern没有什么影响，ATE机不会对其进行检查，但是在scan设计中还是要避免这些X pattern的出现。
根据这次经验教训，我做了如下总结，希望从流程上来技术性地解决这个问题 。
1._stildpv.v仿真时打印没有错误，这是最基本的，说明dut输出与stil中的pattern一致。
2.浅层次(到core一层)dump波形，要把所有的pattern都跑一遍，用得到的xdump/fsdb中检查没有X pattern。如果有X pattern要找到开始的时间点，在3中进行深入dump。
3.深层次(fsdbdump为0)dump波形，查找到X pattern产生的原因，X pattern在ATE机上不会被检查，只是这样的状态是由于dut内部设计不好引起的，可能有隐患，要确认是否需要解决4.如果知识储备够了并且时间允许，最好将Dual pattern flow, unified pattern flow和DPV仿真都走一遍。以最大程度熟悉scan仿真平台，并且要深入了解scan仿真流程，这对于将来上ATE机调试很有用处。 |
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发表于 2010-8-12 09:22:19
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