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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › 后端设计 › 后端资料区 › ASIC-IC_Design-for-Test_process_guide
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[资料] ASIC-IC_Design-for-Test_process_guide

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stevenwyh
发表于 2010-6-26 11:15:28 | 显示全部楼层 |阅读模式

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ASIC-IC_Design-for-Test_process_guide.pdf

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apteye
发表于 2010-6-26 23:40:23 | 显示全部楼层
thanks
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tbb2009
发表于 2010-6-27 00:40:41 | 显示全部楼层
感谢分享资料
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risccpu
发表于 2010-7-24 13:44:17 | 显示全部楼层
good, thanks.
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risccpu
发表于 2010-7-24 13:46:09 | 显示全部楼层
good, thanks.
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risccpu
发表于 2010-7-24 14:17:36 | 显示全部楼层
good, thanks.
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risccpu
发表于 2010-7-24 14:44:16 | 显示全部楼层
good, thanks.
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zheshiwo
发表于 2010-7-24 20:13:34 | 显示全部楼层
好，谢谢！
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active763
发表于 2010-7-30 23:13:02 | 显示全部楼层
感谢分享资料
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sikanglu
发表于 2010-7-31 00:10:43 | 显示全部楼层
DFT，还是要看看，这个东西就没有地方讲清楚的！
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