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[原创] Design-for-Testability Design Kit

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发表于 2010-6-25 11:51:52 | 显示全部楼层 |阅读模式

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Scan Synthesis Outline
1. Introduction
2. Scan Synthesis and ATPG Flow
3. Scan Synthesis: step by step
4. Case study: scan synthesis
5. Frequently Asked Commands (FACs)
6. File Output
7. Course Review

TetraMax Outline:
1. TetraMax and DC
2. TetraMax Overview
3. TetraMax Flow
4. STIL Procedure File
5. ATPG and Fault Coverage
6. Fault Grading before ATPG
7. Course Review
Lab1: Scan synthesis
Lab2: ATPG

测试系统设计-国家晶片系统设计中心[1].pdf

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发表于 2010-6-25 20:14:34 | 显示全部楼层
kankan
发表于 2010-6-25 21:50:48 | 显示全部楼层
下来看看。
发表于 2010-6-26 09:51:13 | 显示全部楼层
1# yohuang

thank you i am researching desig for test . thank you .
发表于 2010-6-27 20:54:15 | 显示全部楼层
thanks!
发表于 2010-7-24 13:40:34 | 显示全部楼层
good, thanks.
发表于 2010-11-14 11:31:34 | 显示全部楼层
good sharing
发表于 2011-7-11 22:33:34 | 显示全部楼层
Good Job!!!
发表于 2011-7-13 18:19:50 | 显示全部楼层
回复 1# yohuang


很好,谢谢
发表于 2011-7-13 18:22:14 | 显示全部楼层
好东西啊,谢谢楼主
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