设为首页收藏本站

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

切换到宽版

手机号码，快捷登录

创芯云服务 : 创芯大讲堂 | 创芯人才网 | 数字IC职业培训 EETOP诚邀线上IC培训讲师!

搜帖子

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › High Performance Memory Testing Design Principles, F ...

1 234 5 6 7 8 / 8 页下一页

发新帖

楼主: hang1

[资料] High Performance Memory Testing Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

发表于 2011-3-2 01:41:54 | 显示全部楼层

存储器测试还是比较麻烦的

回复支持反对

发表于 2011-9-2 15:48:17 | 显示全部楼层

谢谢分享！！！！！！！！！

EETOP创芯人才网职位发布入口

回复支持反对

发表于 2012-7-26 17:37:44 | 显示全部楼层

感謝大大無私地分享

回复支持反对

发表于 2012-8-28 21:57:41 | 显示全部楼层

GOOD,3X

回复支持反对

发表于 2012-9-5 15:38:10 | 显示全部楼层

谢谢分享。。。

EETOP创芯人才网简历投递入口

回复支持反对

发表于 2012-9-9 00:43:44 | 显示全部楼层

还是很有兴趣的，谢谢

EETOP创芯人才网职位发布入口

回复支持反对

发表于 2012-9-15 18:10:42 | 显示全部楼层

谢谢分享，学习中！

EETOP创芯人才网简历投递入口

回复支持反对

发表于 2012-12-19 11:00:17 | 显示全部楼层

谢谢楼主分享~~~

EETOP创芯人才网职位发布入口

回复支持反对

发表于 2013-2-5 12:24:06 | 显示全部楼层

thanks al ot

EETOP创芯人才网简历投递入口

回复支持反对

发表于 2013-2-5 12:26:14 | 显示全部楼层

thansk a lot

回复支持反对

1 234 5 6 7 8 / 8 页下一页

发新帖

高级模式

B Color Image Link Quote Code Smilies

您需要登录后才可以回帖登录 | 注册

本版积分规则回帖后跳转到最后一页

关闭

站长推荐 /2

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-23 20:16 , Processed in 0.020129 second(s), 5 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快速回复 返回顶部 返回列表