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下面引用由老扁在 2004/09/27 12:56pm 发表的内容: 俺复印装订了一本原版,此书年底出中文版,对做IC测试研究很有指导意义。国内目前IC测试方面的书太缺乏。 看这本书的一个深刻印象是书后的参考文献列表有800之多,看看人家做学问和出书的严谨态度。在其他英文专 ...
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