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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Advanced Production Testing of RF, SoCand SiP
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楼主: the_4400

Advanced Production Testing of RF, SoCand SiP

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risccpu
发表于 2010-3-26 11:57:08 | 显示全部楼层
good, thanks.
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risccpu
发表于 2010-3-26 12:08:54 | 显示全部楼层
good, thanks.
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risccpu
发表于 2010-3-26 12:45:31 | 显示全部楼层
good, thanks.
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risccpu
发表于 2010-3-26 12:48:11 | 显示全部楼层
good, thanks.
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xuyun28
发表于 2010-3-26 16:40:38 | 显示全部楼层
!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!11
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lyphoon
发表于 2011-1-19 20:45:00 | 显示全部楼层
thanks
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xlteam2
发表于 2012-4-28 15:54:50 | 显示全部楼层
very good
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Syn2012
发表于 2012-5-1 11:05:53 | 显示全部楼层
Thanks for your sharing!
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philhuang
发表于 2012-5-1 12:49:45 | 显示全部楼层
這是一本好書，從事IC測試必讀
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wwwknown
发表于 2012-6-17 21:13:26 | 显示全部楼层
真是不错的书啊。谢谢
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