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[ebook]Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

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发表于 2009-5-14 22:05:32 | 显示全部楼层 |阅读模式

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[size=120%]Power-Constrained Testing
of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
By Nicola Nicolici, Bashir M. Al-Hashimi


    Publisher:   Springer Number Of Pages:   180 Publication Date:   2003-02-28 ISBN-10 / ASIN:   140207235X
  • ISBN-13 / EAN:   9781402072352


Product Description:
Text focuses on the techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. Fore researchers

and practitioners.
cover.jpg

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits.part1.rar

4.77 MB, 下载次数: 57 , 下载积分: 资产 -3 信元, 下载支出 3 信元

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits.part2.rar

4.77 MB, 下载次数: 56 , 下载积分: 资产 -3 信元, 下载支出 3 信元

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits.part3.rar

452.77 KB, 下载次数: 51 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2009-6-16 10:39:44 | 显示全部楼层
good, thanks
发表于 2009-6-16 10:43:51 | 显示全部楼层
good, thanks
发表于 2013-7-24 21:45:25 | 显示全部楼层
thankdn uaodfj adiofjn
发表于 2013-7-24 21:47:16 | 显示全部楼层
its aoka kdfja dfadf  dadf
发表于 2020-3-3 09:30:24 | 显示全部楼层
thank you very much
发表于 2020-3-4 11:02:21 | 显示全部楼层
感谢楼主分享资料
发表于 2020-3-4 13:38:02 | 显示全部楼层
学习一下
发表于 2020-3-4 13:49:19 | 显示全部楼层
thanksss
发表于 2020-12-8 14:14:53 | 显示全部楼层
感谢分享。。。。
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