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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 讨论区 › 测试工程师知识
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楼主: fox6074

测试工程师知识

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uindex
发表于 2012-1-7 17:21:13 | 显示全部楼层
泛泛提点皮毛，内容太少了。
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skyfighter
发表于 2012-1-17 15:34:38 | 显示全部楼层
IC 测试需要
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clany
发表于 2012-2-11 22:53:51 | 显示全部楼层
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clany
发表于 2012-2-11 22:54:15 | 显示全部楼层
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clany
发表于 2012-2-11 22:55:20 | 显示全部楼层
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laijuncheng
发表于 2012-2-14 05:49:40 | 显示全部楼层
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laijuncheng
发表于 2012-2-14 06:06:23 | 显示全部楼层
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three_years
发表于 2012-2-15 12:50:35 | 显示全部楼层
kankna 3ks very much!!!!!!!!!!!!!!!!!!11
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timxavier
发表于 2012-2-19 11:27:40 | 显示全部楼层
主要讲的混合芯片的验证，一般般
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shenkele2006
发表于 2012-3-1 10:12:56 | 显示全部楼层
谢谢啦~~~~~~~~~
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