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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 绝对好的测试资料

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楼主: jiewu

绝对好的测试资料

发表于 2010-8-9 20:46:20 | 显示全部楼层

thanks,

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发表于 2010-8-9 22:45:24 | 显示全部楼层

thank for sharing

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发表于 2010-8-14 20:38:55 | 显示全部楼层

好好学习。

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发表于 2010-8-18 08:59:05 | 显示全部楼层

值得一看

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发表于 2010-8-19 09:41:54 | 显示全部楼层

谢谢分享

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发表于 2010-9-18 18:38:02 | 显示全部楼层

谢谢共享！！

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发表于 2010-9-19 00:16:57 | 显示全部楼层

thanks for sharing

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nuerhachidetian

发表于 2013-5-2 22:38:25 | 显示全部楼层

thanks for sharing agian

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发表于 2013-11-13 22:38:08 | 显示全部楼层

回复 1# jiewu

值得学习

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发表于 2013-11-13 23:00:20 | 显示全部楼层

都不太清楚验证

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