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楼主: nemovon

[求教]为什么不使MOS管偏置在弱反型区以获得更高的增益

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发表于 2008-12-2 20:32:27 | 显示全部楼层
亚阈值不稳定,由于工艺偏差可能进入饱和区
发表于 2008-12-2 21:12:52 | 显示全部楼层
确实是这样,工程与理论不同
发表于 2008-12-3 10:46:28 | 显示全部楼层
对工艺要求太高了。
发表于 2008-12-3 17:11:30 | 显示全部楼层
但是高速的电路是工作在大电流状态的,亚阈值时的增益是很高,但是不适用在这种情形下。这也算个trade-off吧。
发表于 2008-12-3 23:33:05 | 显示全部楼层
现在常用的BSIM模型对亚阈区的描述也不够精确
发表于 2008-12-4 08:43:34 | 显示全部楼层


不太明白,为什么比较危险呢?是指成品率么?
发表于 2008-12-8 19:36:31 | 显示全部楼层
速度不够快
发表于 2008-12-9 21:14:36 | 显示全部楼层
要考虑工艺的偏差,做产品而不是做仿真~
发表于 2008-12-9 22:31:28 | 显示全部楼层


原帖由 jjh13418751940 于 2008-12-7 21:53 发表
谁说亚于去增益大啊

的确很大
其实设计是有技巧的  
你用很宽的管子  然后大电流的情况下 你会发现不管你跑什么corner 都会在亚阈值区的  所以工艺不是问题
第二 噪声不高 啊    不管是热噪声还是闪烁噪声  ,貌似和工作区域没有关系啊
而且 在大电流下,跨导会变大,反而使噪声减小 而且由于面积大 1/f噪声也小啊
当然功耗会大 这主要和你的应用有点关系  如果GBW大的话 还是可以考虑的
发表于 2008-12-9 22:36:40 | 显示全部楼层
在fab提供的文档,看到measurment 和model 曲线对比似乎也挺准的
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