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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › IC测试原理解析
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楼主: zhongshanli

IC测试原理解析

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sun350626
发表于 2011-9-19 01:54:49 | 显示全部楼层
thinks
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meegen
发表于 2011-9-19 15:30:47 | 显示全部楼层
谢谢分享
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superleaf
发表于 2011-9-19 19:59:16 | 显示全部楼层
原来是针对数字IC测试的。
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clxx21
发表于 2011-9-20 11:27:29 | 显示全部楼层
回复 1# zhongshanli
thanks for share!~~
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liuquantz
发表于 2012-6-25 13:47:16 | 显示全部楼层
谢楼主，顶一下！
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aluny
发表于 2012-6-29 17:10:26 | 显示全部楼层
希望有用。。。
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autumn7912
发表于 2012-10-14 16:31:12 | 显示全部楼层
Thank you~
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tt6680
发表于 2012-10-17 11:17:29 | 显示全部楼层
thanks a lot!
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laowanging
发表于 2012-10-17 18:22:49 | 显示全部楼层
谢谢分享
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mapplelvan
发表于 2012-10-19 12:21:52 | 显示全部楼层
开始深入了解IC testing！
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