在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 5872|回复: 6

【SCR】结构与【Snapback】结构问题请教---ESD

[复制链接]
发表于 2008-8-24 19:49:11 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
各位前辈好,
SCR 于NMOS做的NPN ESD器件,都是利用击穿CMOS工艺寄生的三极管来放电,他们都与工艺相关性很大,那谁与工艺相

关性更大呢?

在SCR中,有源区上的CONTACT与阱的间距,可以采用最小间距;

在NMOS管中,Drain上的CONTACT的间距有比较严格的要求;

那我是不是可以这样理解:

利用NMOS管来做的NPN放电结构与工艺的相关性,比SCR结构对工艺的相关性更大呢?
发表于 2008-8-25 12:21:36 | 显示全部楼层
同感,有没有人??
发表于 2008-9-4 22:36:54 | 显示全部楼层
哪里有ESD大牛啊
发表于 2010-4-14 10:36:15 | 显示全部楼层
没效果
发表于 2014-10-31 10:48:16 | 显示全部楼层
应当是这样的!
发表于 2014-11-1 08:57:00 | 显示全部楼层
两者的放电原理不一样,要具体分析。NMOS的漏拉开是为了开启均匀性。SCR可以最小尺寸,因为其放电效率高,可靠性好。
发表于 2019-1-21 18:46:18 | 显示全部楼层
受教了!
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-18 03:30 , Processed in 0.021368 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表