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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 基于ATE的IC测试原理 方法及故障分析
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楼主: zweishi

基于ATE的IC测试原理 方法及故障分析

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whitelie.wen
发表于 2011-7-28 15:44:36 | 显示全部楼层
谢谢分享
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fayfay521
发表于 2011-10-24 18:35:21 | 显示全部楼层
多谢LZ分享好资料~~
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pinker56
发表于 2011-10-29 08:49:11 | 显示全部楼层
看看 自动测试
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feilongf91
发表于 2011-12-7 22:58:25 | 显示全部楼层
很久没看了，复习一下！
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clany
发表于 2012-2-5 14:14:25 | 显示全部楼层
先下了学习!
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citydremer
发表于 2012-2-11 23:49:04 | 显示全部楼层
回复 1# zweishi
流片完了，就是不懂测试的事情
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shenlong2002
发表于 2012-3-1 19:45:04 | 显示全部楼层
谢谢啦
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hao_0071
发表于 2012-3-1 21:23:09 | 显示全部楼层
学习一下，谢谢
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hao_0071
发表于 2012-3-1 21:24:07 | 显示全部楼层
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arronsun
发表于 2012-3-26 15:35:42 | 显示全部楼层
十分感谢。ATE用了一段时间，从来没总结过。
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