CPU可测试性设计

grhuizl · 发表于 2008-8-12 18:11:20

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可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用CPU的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的CPU，综述了可应用于通用CPU等高性能芯片设计中的各种可测试性方法，包括扫描设计（Scan Design），内建自测试（Built-In Self-Test，BIST），测试点插入（Test Point Insertion），与IEEE 1149.1标准兼容的边界扫描设计（Boundary Scan Design，BSD）等技术

teshubah · 发表于 2008-10-19 01:32:30

多谢了

amin2008 · 发表于 2008-10-22 00:23:07

学习一下

dft2009 · 发表于 2009-11-1 11:03:58

看楼主blog收获很多！

272371972 · 发表于 2009-11-1 11:53:26

xue xi xia

oasis87 · 发表于 2009-11-1 17:07:17

支持下，确实是好东西@@

08041016 · 发表于 2010-9-24 22:54:02

谢谢诶看看

walkerwen1 · 发表于 2010-10-5 20:45:40

thanks

lihongpengtd · 发表于 2010-10-6 07:24:06

good!!

xlteam21 · 发表于 2010-12-15 15:56:44

pretty good

CPU可测试性设计

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