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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

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发表于 2009-3-25 15:45:53 | 显示全部楼层 |阅读模式

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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits.pdf

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发表于 2010-10-5 00:40:57 | 显示全部楼层
谢谢分享
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发表于 2010-10-8 18:18:15 | 显示全部楼层
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sararen
发表于 2011-5-3 00:05:24 | 显示全部楼层
回复 1# schwang


    谢谢lz啦
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发表于 2012-10-8 10:49:56 | 显示全部楼层
非常感谢您的分享
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发表于 2012-10-9 17:42:23 | 显示全部楼层
谢谢分享
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发表于 2012-10-18 09:55:38 | 显示全部楼层
再次顶一下，太感谢
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发表于 2012-10-24 15:43:27 | 显示全部楼层
谢谢您的分享
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发表于 2018-2-13 10:15:29 | 显示全部楼层
谢谢 非常好的书
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cdting
发表于 2018-2-18 13:56:56 | 显示全部楼层
非常感謝~~~
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