设为首页收藏本站
在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)

手机号码，快捷登录

手机号码，快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
创芯云服务  : 创芯大讲堂  | 创芯人才网 | 数字IC职业培训  EETOP诚邀线上IC培训讲师!
搜帖子
EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › IEEE 1149.6 standard doc
返回列表 发新帖
查看: 734|回复: 3

[资料] IEEE 1149.6 standard doc

[复制链接]
wdp1990
发表于 2024-1-10 14:29:40 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看，没有账号？注册

x
IEEE 1149.6 手册，需要自取。

IEEE Std 11496-2003, IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital.pdf

1.61 MB, 下载次数: 36 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

1149.6
回复

举报

im.leo
发表于 2024-1-10 15:10:01 | 显示全部楼层
多谢分享 多谢分享 多谢分享
EETOP创芯人才网简历投递入口
回复 支持 反对

举报

313949724
发表于 2024-1-10 23:30:54 | 显示全部楼层
谢谢
回复 支持 反对

举报

jimcmwang
发表于 2024-1-11 10:53:55 | 显示全部楼层
IEEE Std 11496-2003, IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital.pdf  1.61 MB, 下载次数: 10 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元  1149.6
回复 支持 反对

举报

返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-22 01:09 , Processed in 0.016339 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表