在看韩雁的ESD书本的时候遇到了一个问题

Wzx_imos · 发表于 2023-10-26 20:41:55

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书本原话是：“而对于维持点(Vh，Ih),则必须高于最大功率线,避免器件发生寄生闩锁烧坏器件或芯片。这里若要求维持点的电压Vdd,大于Vdd,则能从根本上消除闩锁风险,但同时也使得设计具有很大的挑战性。”

按照我的理解，似乎维持电压高于VDD并不是最低要求，只需要维持点高于最大功率线就好了。
在维持点高于最大功率线的情况下可以允许维持电压低于VDD。
有没有大佬可以讲一讲这个只需要维持点高于最大功率线就可以避免器件发生寄生闩锁烧坏器件呢？

franzjoseph · 发表于 2023-10-29 22:58:12

不是的啊，之所以要求vh大于vdd是因为低于vh以下是正常芯片的工作区间，如果大于这个点那正常情况下ESD自身不会有LU的风险，从power的角度是不好控制的，因为ESD device的实际IV在临界状态很难确定

fj0510 · 发表于 2023-10-30 11:34:47

这个其实挺好理解的，闩锁需要给特定路径持续提供一定大小的电流才能维持。把问题简化为dut正常工作下的电流大小与闩锁Ih进行比较，当Ih大于前者，则可以认为在dut正常工作的时候不会在该路径里出现闩锁，因为dut正常工作下需要的电流即使完全流经闩锁路径也无法维持闩锁状态，在这种情况下就不存在闩锁风险了。
当然实际生产中这个问题可能会更复杂一些。
不过我不太能理解你提出的问题，希望描述得更详细一些。

fei_SH · 发表于 2023-10-31 08:40:06

简单的理解，就是要么Vh高，Ih可以低，要么Ih高，Vh可以低。Ih很高正常工作满足不了Ih，也是不能维持持续导通的，latchup风险也就低了。

Wzx_imos · 发表于 2023-10-31 09:24:39

fj0510 发表于 2023-10-30 11:34
这个其实挺好理解的，闩锁需要给特定路径持续提供一定大小的电流才能维持。把问题简化为dut正常工作下的电 ...

我差不多理解了，谢谢

Wzx_imos · 发表于 2023-11-29 10:49:47

关于这个问题，我在一个公众号上得到了我想要的答案了，总算是搞清楚了。谢谢各位的回答

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