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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
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楼主: dongcy

[资料] Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

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jw216
发表于 2022-7-20 06:06:46 | 显示全部楼层
xx谢谢分享
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jimcmwang
发表于 2022-7-24 21:19:25 | 显示全部楼层
53Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults.pdf  2.61 MB, 下载次数: 58 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元
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wangchenglong
发表于 2024-1-29 16:09:30 | 显示全部楼层
感谢分享
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