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[求助] Applied Reliability - Paul A. Tobias, David C. Trindade

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kernacs
发表于 2013-7-13 09:04:06 | 显示全部楼层 |阅读模式

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里面有关于芯片测试及可靠性模型计算的一些方法。

求好心人分享。


書名Applied Reliability
作者Paul A. Tobias, David C. Trindade
版本3, 圖解, 修訂
出版者CRC Press, 2012
ISBN1584884665, 9781584884668
頁數564 頁
好心人, 可靠性, 模型

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