弱弱的问下，为什么要做scan？

fl_5588 · 发表于 2012-3-12 23:00:53

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大规模电路做scan的时候会带来大量的冗余逻辑，并且测试向量要很多，测试周期很长，据说ATE测试费用是很高的，而scan的时候是在die封装之前做测试，封装的成本不是很高，那么直接封装好了直接板子功能测试找坏片子岂不是更节省成本？
如有理解错误的地方谢谢指正，欢迎赐教。

emerlai · 发表于 2012-3-13 13:01:13

Without scan, you can not reach the deeply logic circuits inside of the IC even you run infinite pattern.
package cost is not major cost. Size was, to a complete system, smaller is better.

GloriaChung · 发表于 2012-3-13 16:03:08

二楼正解，顶一下
光靠functional pattern的测试是不容易也不可能遍历绝大部分逻辑的

fl_5588 · 发表于 2012-3-13 20:32:18

回复 2# emerlai

奥，谢谢。

fl_5588 · 发表于 2012-3-14 18:16:05

回复 3# GloriaChung

谢谢高手~

[调查] 弱弱的问下，为什么要做scan？

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