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[求助] 测试中burn in和HTOL有什么区别么?

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发表于 2022-1-14 08:59:53 | 显示全部楼层
HTOL是属于可靠性验证的范畴了,芯片经过一定时长的HTOL环境,仍然可以工作,就代表一定时长的寿命,一般量产不会去做;量产一般做的是burn in测试,100%做或者抽样做,是量产必须的流程,多见于memory类的芯片。
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