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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 讨论区 › scan atpg parallel pattern simulation issue

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[求助] scan atpg parallel pattern simulation issue

发表于 2025-7-7 11:40:28 | 显示全部楼层

zxfzpf 发表于 2024-6-27 11:20
当然，在产pattern的时候把capture的window加大是可以解决这个后仿mismatch问题的，但是我还是觉得这个现 ...

有同样的疑问，不过capture的window怎么加大？不都是一拍始终capture吗？

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