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[原创] 关于smic40中对于AA(active area)的最大space要求的讨论

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发表于 2024-12-30 19:36:03 | 显示全部楼层 |阅读模式

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在smic40中,有一个rule,我一直是抱有疑问的,但是内心给他的答案是机械应力,rule如下:


                               
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他说的是最大的STI width是不能超过10,但是只要求两边满足即可,另外两边超过了是没有报错的,AA以外是STI这个认识我是有的,所以我觉得它这个rule就是为了防止STI对AA的机械应力过大才设置的一个rule,但是这又会引发什么效果呢?难道是S那边制造存在问题?STI过大就会导致断裂啥的,然后芯片平均寿命会降低吗?大家都来讨论一下呗,咱们集思广益一下,因为我在tsmc40是没有遇到过这个问题的,或者说,smic这边的rule太严了,很容易就产生这个rule,我们如果需要制造,这个rule是否建议我们去waived掉呢?
 楼主| 发表于 2024-12-31 17:09:39 | 显示全部楼层


   
zcwolf 发表于 2024-12-31 10:21
最终顶层需要满足density要求也会撒AA dummy, 基本10X10的area一定会有AA, 所以这个drc一般也不会有。 ...


不是,你们理解错了,这不是density的问题呀,你看清楚,这是STI的问题,这是由于STI的width过大了,你撒AA是一部分,但是你能撒在POLY 电阻下面吗?我们遇到这个问题主要就是在poly电阻的情况下遇到。
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 楼主| 发表于 2024-12-31 17:11:39 | 显示全部楼层


   
Annie_kyohou 发表于 2024-12-31 17:09
不是,你们理解错了,这不是density的问题呀,你看清楚,这是STI的问题,这是由于STI的width过大了,你撒 ...


也就是说,这个rule和density的rule是不冲突的,即使你满足了density的rule,这个rule依然不会过的!
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 楼主| 发表于 2024-12-31 17:24:41 | 显示全部楼层


   
zcwolf 发表于 2024-12-31 17:17
可能我没做过40的,不太了解40的电阻。28和12的话poly电阻都是自带AA DUM层次的 而且10X10区域没AA的话基 ...


是的,他这里要求是只要你STI区域面积是10*more than 10就会报这个错误,但是只要你是more than 10*less than 10就不会报这个错误
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 楼主| 发表于 2024-12-31 17:26:08 | 显示全部楼层


   
李幕白 发表于 2024-12-31 17:24
POLY电阻能洒满10umX10um区域吗,不确定40nm对POLY的要求是怎样的,按照我对22/28nm的理解,对POLY的约束 ...


自带的OD你们操作的时候不去掉吗?我们可以自己做的呀
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 楼主| 发表于 2024-12-31 17:43:05 | 显示全部楼层


   
本征半导体 发表于 2024-12-31 17:34
确实不能撒再电阻下面,但是我们正常经验中遇到这条rule都是在top层中使用simc提供的解决密度问题的脚本 ...


这个不是密度的rule,我上边说了
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 楼主| 发表于 2024-12-31 17:46:07 | 显示全部楼层


   
李幕白 发表于 2024-12-31 17:32
去掉也可以,但是后面用脚本撒的时候也会自动撒满OD/PO/METAL的dummy。也会自动满足这个DRC了。 那如果说 ...


对,我是觉得存在风险的,因为这个是fm的,如果你需要制造,我觉得就应该满足工程给你提供的额外的rule,而这个我觉得就是STI面积过大,导致其机械应力同样提升了,会不会对芯片寿命产生较大的影响什么的,这个影响在PDF中有提及吗?能不能定量分析呢?
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 楼主| 发表于 2025-1-9 10:55:25 | 显示全部楼层


   
bubushenghua 发表于 2025-1-1 17:36
width与length也是有一点区别的。


他这是只要length或者width两边都小于110就不报,我跑出来好像是这样的
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 楼主| 发表于 2025-2-13 20:14:26 | 显示全部楼层


   
bubushenghua 发表于 2025-2-6 15:46
在90nm 制程之前,遵守design rules可以确保产量在可接受的范围之内。|
However,a lot of challenges to  ...


这个我明白,但是!我说的是为什么,每个rule都有其存在的必要性,可能你看到的是良率的升高或降低,但是呢,这个都有一个定量的标准或者可以为其定性,良率的高低只是一个表层的原因,我们要知道其深层原因。
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