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[求助] HBM/MM/CDM failure的区别?

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发表于 2022-9-8 09:54:40 | 显示全部楼层 |阅读模式
悬赏100资产未解决
请教个问题:HBM/MM/CDM 对IC的damage,有什么区别?
比如CDM更容易造成栅氧损伤,那么HBM和MM的主要区别在哪里?

 楼主| 发表于 2022-9-14 16:27:29 | 显示全部楼层


   
u12u34 发表于 2022-9-9 15:08
你可以看下我的博客 里面有讲这三种ESD模型,这三种模型是模仿芯片在制造,运输,使用中遇到的不同类型的放 ...


这个我明白,失效类型 有没有什么区别?
比如CDM一般是GOX击穿,HBM一般是热损伤一类的。。。
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 楼主| 发表于 2022-9-19 19:55:42 | 显示全部楼层


   
u12u34 发表于 2022-9-14 18:52
CDM主要是栅击穿 ,HBM不好说 我做过很多FA,失效的情况五花八门。如果是输入级发生ESD失效 一般是软失效 ...


器件隔离环失效我也遇到过,是不是因为环的width 或者环到AA区的space不够?
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 楼主| 发表于 2022-9-20 09:34:57 | 显示全部楼层


   
linda1518b 发表于 2022-9-19 22:38
如果是MOS的話, HBM有可能死在中間, 但MM經常死在兩端~~參考看看


中间和两端是什么意思???什么的中间和两端?
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 楼主| 发表于 2022-9-20 09:35:54 | 显示全部楼层


   
u12u34 发表于 2022-9-20 09:10
嗯啊 是这样的 我们是VIA打少了 距离也不够 反正现在只是吸取了教训 至于原因还是不太清楚  
...


你们是哪个工艺节点的?隔离环width 和space 设置为多少的?
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