tmax跑出来的pattern在实际芯片上失效

yutou95

tmax生成的dft pattern，用tmax fault simulation以及VCS仿真parallel模式，都可以pass，显示0 mismatch，但是用实际的芯片去跑的时候，会出来几千个位置的失效，失效位置不同芯片之间有细微差异，但是大致是相同的。
用vcs去跑的时候是有加上sdf文件的，跑了几个conner都是0mismatch

想请问有没有人知道这是怎么回事？大家都是怎么处理这种情况的？

yutou95

回复 2# 黑崎一护776

跑过serial，也是0mismatch

yutou95

回复 3# jacky.sun serial 和 parallel模式都是0mismatch，很困惑

yutou95

回复 6# 慢慢啃骨头

基本所有的dies回来都会有或多或少的失效，且失效并不是很稳定。这样子的话，基本dft pattern就没法用了。
想请教一下，一般这种失效都是怎么处理的？

yutou95

回复 8# ustc12


   加电压，降时钟，移动采样点都试过，但是出来的fail点一直不稳定。

yutou95

   

soc2012 发表于 2019-10-12 09:29
只跑chain test 可以过吗？   同一个片子  多测几次  每次的fail cycle相同吗？

只跑chain test 能过，
同一个片子出来的错误基本是一致的，偶尔一两个cyc不一致
不同片子的错误也是大部分一致的。

yutou95

   

wsmysyn 发表于 2019-10-14 10:50
之前在跑dft pattern的时候，也会遇到这样的问题，可能到有300-500个fail point，但是比较固定，一般做法就 ...

是的，但是有时候fail point不是很固定，不同的芯片之间有几个cyc的差异。
这时候做Pattern mask就会比较困难。
想知道为什么会出现这样的错误呢？有时候用网表后仿跑parallel都是能pass的，实际上芯片就是会失效。

yutou95

   

wsmysyn 发表于 2019-10-22 10:10
你用的是什么ATE平台

我们调试的时候也有这个现象，我们93k平台，出错点算是比较稳定的，多测了一些die ...

试过chroma的测试平台，不同测试平台的差异这个倒是没有对比过，

但是如果要换平台的话，针卡那些不是要重新做吗？

yutou95

   

wsmysyn 发表于 2019-10-22 15:03
chroma3360/3380平台么？ 也是用排线的方式连接的那种？

我们ft就选了这个平台，主要是性价比比较高，93 ...

比较疑惑的是，如果说是因为信号质量的问题的话，为啥每次chain test都是可以过的...

yutou95

   

LCS527 发表于 2019-10-22 15:07
请问怎么做pattern mask，具体命令是什么？

手改或者写脚本吧