ATE施加的测试激励和ATPG模块产生的测试向量是同一个概念吗？

wenfangsibao

ATE测试机台会给芯片施加激励；同时芯片内部的测试逻辑或者模块会自己产生大量的测试向量。请问这两者是一回事吗？
我感觉不太像啊，那这两者有什么区别呢？
ATE测试机台给芯片施加的激励主要是什么？ATPG产生的测试向量不出芯片吗？

wenfangsibao

   

wsmysyn 发表于 2021-8-11 19:39
ATPG产生测试向量, 在量产的时候由机台根据给进去的pattern来产生,
差别是仿真的时候工具是直接吃进去波形 ...

还是没有明白。首先，ATPG电路是做在芯片里的吗？

其次，ATPG电路产生的测试向量为什么是由机台给进去的pattern产生？不是由ATPG电路产生的吗，有点不理解。