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[求助] mos 管的噪声 noise 仿真

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发表于 2017-7-31 15:36:57 | 显示全部楼层
回答下你的第二个问题吧,关于管子W、L、veff的选择,现在比较流行的是用反型系数配合gm/ID法找到最佳的tradeoff和optimization。反型系数提供归一化模型,gm/ID找到比较贴近的计算数值。
具体的操作方法比较复杂,你可以看看《A CAD Methodology for Optimizing Transistor Sizing in Analog Design》,《A gm/ID Based Methodology for the Design of CMOS Analog Circuits and Its Application to the Synthesis of a Silicon-on-Insulator Micropower OTA》以及他们所引用的论文。
这些方法对理论的要求比较大,尤其是管子器件的物理性能。
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发表于 2017-7-31 16:57:32 | 显示全部楼层
回复 4# rfham


    不客气,平方率公式虽然对电路设计有很好的指导性,但是对于如今的短沟道器件已经无法得出哪怕相近的值。Binkley、Boris、Silveira、Jespers这些大牛们给出了行之有效的解决思路。可以多看看他们的论文,如果能和实战结合,那就真的能让自己的设计能力提升到一个新的层次了
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