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Synopsys白皮书下载:5G如何影响芯片设计 (奖励300信元)
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[求助] 咨询汽车电子IC的量产测试(高温)

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发表于 2012-7-27 10:56:56 | 显示全部楼层 |阅读模式

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汽车IC要求能工作在125摄氏度,有些甚至标称工作150摄氏度。
这些IC是如何测试保证高良率不会出现少量IC在高温下发生latch-up失效的?
是否可以对每颗IC进行测试?
汽车IC要不良率很低,例如有些厂家要求50ppm,如何保证每颗IC都不发生latch-up?
发表于 2012-7-27 14:29:57 | 显示全部楼层
消费电子每个都要测,比说汽车电子了,不测就是找死
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发表于 2012-7-27 22:46:15 | 显示全部楼层
好像确实是车载应用比一般场合应用要求温度范围更宽
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发表于 2012-7-27 22:48:40 | 显示全部楼层
楼主一直在说latch-up,我自己的理解是一般版图时的design rule应该有latch-up把关吧
高低温应该主要还是卡在电路性能上吧
个人见解.. ..
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发表于 2012-7-27 23:28:24 | 显示全部楼层
量产测试如果都要进行高温测试的话,那就不是在做IC了
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发表于 2012-7-29 00:35:17 | 显示全部楼层
回复 4# mcgrady


    高温下更加容易发生latch up。关键是如何筛除那些极少量的高温下发生latch up的芯片?
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