在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
楼主: typhoon222

[统计] saradc仿真测试差别大,可能是什么原因?

[复制链接]
 楼主| 发表于 2016-4-5 20:13:22 | 显示全部楼层


回复  typhoon222

看来是因为你没有做冗余。为了防止电容失配导致转换错误,DAC各级电容比值要小于2才行 ...
iamshuang2013 发表于 2016-4-1 10:04



冗余是指电容阵列版图外围加两圈dummy电容么?
 楼主| 发表于 2016-4-5 20:15:16 | 显示全部楼层


回复  typhoon222

你连版图后仿都没做就去流片了啊。。。后仿结果跟前仿差4bit很正常啊,版图布 ...
zengyl 发表于 2016-4-1 10:16



版图优化主要优化什么啊?
发表于 2016-4-5 23:18:17 | 显示全部楼层
回复 30# typhoon222

不是啊,指的是电容之间的比值。你搜一下sub radix-2,比值小于2,同时需要增加一次额外的比较,通过系统层面的冗余弥补电容失配。直接做成radix-2很危险。
发表于 2016-4-5 23:33:22 | 显示全部楼层
本帖最后由 iamshuang2013 于 2016-4-6 21:43 编辑

回复 30# typhoon222

sub-radix-2 的资料: A 12-bit, 45-MSs, 3-mW Redundant SuccessiveApproximation-Register Analog-to-Digital Converter With D (1.55 MB, 下载次数: 112 )
发表于 2016-4-6 08:41:21 | 显示全部楼层
本帖最后由 toka888 于 2016-4-6 08:44 编辑

从给出的测试图形看最低位设计精度不够。
但目前最大问题是通路输入失配问题,导致INL在中间转换点附近出现阶跃现象。这估计是电容阵失配引起的,你应该可以通过后仿真再现这个现象。
 楼主| 发表于 2016-4-19 10:08:39 | 显示全部楼层


从给出的测试图形看最低位设计精度不够。
但目前最大问题是通路输入失配问题,导致INL在中间转换点附近出现 ...
toka888 发表于 2016-4-6 08:41


后仿也只少了0.2有效位啊~
fft.png QQ截圖20160419101158.png
发表于 2016-4-19 16:29:01 | 显示全部楼层
回复 1# typhoon222

什么工艺?采样电容多大?
发表于 2016-4-19 16:35:11 | 显示全部楼层


回复  typhoon222

10bit 电容适配应该小于0.1% 吧? 我觉得主要问题是MSB和LSB之间的比值出现较大偏移, ...
iamshuang2013 发表于 2016-4-1 00:25



不是这么算的,按单位电容,10bit需要0.5%.
未命名.JPG
 楼主| 发表于 2016-4-19 17:00:25 | 显示全部楼层
发表于 2016-4-19 18:14:28 | 显示全部楼层
回复 38# typhoon222
片内reference buffer还是片外的?同步还是异步的?同步的话降低频率有提升吗?这样可以判断是静态匹配误差还是动态建立误差。
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-12-23 22:18 , Processed in 0.028054 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表