DFT测试覆盖率提高的疑问

snowzx · 发表于 2014-6-19 17:34:14

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本帖最后由 snowzx 于 2014-6-23 09:59 编辑

请教各位大神，为了使scanrst能把所有触发器串起来，设计中多次使用rst_out = ASIC_TEST ? rst_scan : Rstn；如图所示，

但是这样影响了测试覆盖率，扫描模式下，ASIC_TEST 常为1，产生许多相关的atpg_untestable，请问有什么方法能消除这些AN吗？

zero_0 · 发表于 2014-6-20 17:41:00

一是不明白 rst 为什么要有两个
二是不明白 rst_out 为什么不是全局的
这种是没有办法的，可以把它们当作已经检测到进行分析

搜一下这个：“在设计中遵循DFT规则，提高错误检测覆盖率”

snowzx · 发表于 2014-6-23 09:44:24

本帖最后由 snowzx 于 2014-6-23 09:48 编辑

回复 2# zero_0
谢谢回复，我再描述的详细一些，对复位信号的选择如下图所示，

，扫描模式下，ASIC_TEST常为1，产生很多相关的atpg_untestable，如mux的选择端，请问有什么方法能消除这些AN吗？

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