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查看: 6572|回复: 11

[求助] 求助两个独立module的DFT问题

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发表于 2014-3-27 16:13:15 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本人新手,求助各位大神。有两个独立的数字模块A和B,它们在版图上分别在两个位置,这需要分别独立进行DC和ICC的吧?现在希望A和B的scan chain是连在一起的,共用一个scanclock,A的scanout作为B的scanin,请问这应该怎么实现?是A和B分别作DFT,然后在版图上连线吗?它们共同的ATPG怎么生成?也就是给TetraMAX输入什么样的设计网表?谢谢各位大神啦!
发表于 2014-3-27 18:05:36 | 显示全部楼层
一定要串起来么 不能分时复用么 ? 先测a 然后测b
 楼主| 发表于 2014-3-28 10:35:38 | 显示全部楼层
回复 2# ldcyes
谢谢您的回复,电路设计要求是串在一起,请问不好实现吗?还有,想问一下:
1、功能模式下电路是多时钟域的,DFT模式下只用一个scan clock,那么在DC约束的时候,以功能模式的多时钟域为基准,还是以DFT模式的单时钟域为基准?之后ICC读入功能模式的sdc?还是DFT的sdc?
2、set_case_analysis在DFT中可以使用吗?能不能做DFT时,用这个命令设置scan_mode=1?
本人新手菜鸟,麻烦你啦!
 楼主| 发表于 2014-4-3 11:06:32 | 显示全部楼层
自己顶下,别沉了,求指点啊
发表于 2014-4-3 12:40:15 | 显示全部楼层
回复 3# snowzx


   综合当然用func的sdc,scan 复用 function的clock tree,SCA 到function的tree上 ,在sta的时候分func和scan分别加constraint。
 楼主| 发表于 2014-4-3 13:38:35 | 显示全部楼层



非常感谢您的回复。在func情况下,综合会设置不同时钟间的set_false_path,而scan下,不同时钟都被测试时钟驱动,如果综合用func的sdc,这会不会导致scan下不同时钟域间的时序出现问题?另外,请问SCA是什么?麻烦您了
发表于 2014-4-3 15:32:10 | 显示全部楼层
set_case_analysis sca
scan下不同clock之间的path只做shift 和dc capture,不同的clock domian的 不要穿在一条短chain上,后端会做scan chain reorder啊,你跑sta如果有violation叫后端修就好, 一般hold问题比较多
发表于 2014-4-6 22:38:01 | 显示全部楼层
The easy method to use two scan chain.
The module A and B set to different scan input and scan output.
The atpg can generate pattern for each scan chain and can parallel test each chain.
 楼主| 发表于 2014-4-17 10:53:31 | 显示全部楼层
回复 8# wh1105

谢谢您的回复,但是port引脚数量有限,希望在顶层只用一对scanin和scanout,并且已经是复用功能引脚了,请问能否A、B共同做DC,DFT,ATPG,然后将输出的门级网表A、B部分分离,分别再做ICC,最终在版图上连线?谢谢!
发表于 2014-4-17 16:39:36 | 显示全部楼层
谢谢分享
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