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1、在做完DFT的设置完后,preview_dft的时候,出现的测试策略不可用的问题:design_vision> preview_dft
Warning: Design 'design_top' contains 1 high-fanout nets. A fanout number of 1000 will be used for delay calculations involving these nets. (TIM-134)
Information: Starting test design rule checking. (TEST-222)
Error: Invalid test protocol. Create a test protocol again. (TEST-1310)
Error: Could not run pre-dft design rule checking. (TEST-1313)
Information: Defining new variable 'hlo_collapse_intermediate_hardware_alts'. (CMD-041)
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2、下面是我对设计的configuration,是在DC综合完后,做以下设置的
set hdlin_enable_rtldrc_info true
remove_attribute [get_designs -hierarchical {*}] dont_touch
set test_default_scan_style multiplexed_flip_flop
set_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop -clock_mixing mix_clocks -add_lockup true -chain_count 1
set_scan_configuration -lockup_type latch
set_dft_signal -view spec -type ScanEnable -port SCAN_EN -active_state 1
set_dft_signal -view existing_dft -type Reset -port RESET -active_state 0
set_dft_signal -view existing_dft -type ScanClock -port XTAL1 -timing {45 55}
set_dft_signal -view spec -type TestMode -port TEST_MODE -active_state 1
set_dft_signal -view spec -type ScanDataIn -port SCE_P
set_dft_signal -view spec -type ScanDataOut -port SIO_P
set_scan_path -view spec c0 -scan_data_in SCE_P -scan_data_out SIO_P
set test_default_delay 0
set test_default_bidir_delay 0
set test_default_strobe 40
set test_default_period 100.0
set test_default_strobe_delay 1.0
compile -scan
preview_dft
3、由于是第一次做DFT,所以有很多疑问,也有很多理解不到位的,希望各位大神指教,嘿嘿,谢谢大家啦!!!
首先,上面所说的 Invalid test protocol.是不是就是指我的scan dft 和test configuration的所有设置。
其次,set_dft_signal -view spec -type ScanEnable -port SCAN_EN -active_state 1命令里面的view设置会不会影响扫描链的生成,我将原来预留给测试用的端口设置为existing的,复用其他IO端口的设置为spec,不过提示时钟也要设置为spec。我们复用其他IO端口的时候,对端口有什么特殊的要求吗?
还有里面的active_state我们是根据什么进行设定的呢?
下面是我的模块的顶层端口
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