在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 1844|回复: 4

[求助] 拜请各位斑竹出山答解小弟疑问————有关PAD、IO等问题

[复制链接]
发表于 2014-1-7 14:21:34 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
有以下两个问题:
1、后端设计中,设计确定了PAD的种类和型号,现在想设计一个电路去验证驱动能力:具体是,现在有几个PAD,想设计几组BUF来驱动它,比如要驱动40pf的PAD需要多少什么样的BUF,对于这个需要如何去考虑?
简单说来就是当我们在设计中选定了PAD如何在芯片中确定驱动能力?需要插什么样的BUF等需要如何去考虑?
2、在后端PR中,Encounter自动布局布线里如何却更好的约束IO,相信很多人都知道通过给予IO端口的位置坐标、Layer层次、place_status、width、depth这些信息写成一个IO文件来约束,但是在具体的设计中,小弟发现,IO端口打VIA孔的方式好像没有被约束,设计出来的IO端口位置上的VIA孔很烂,导致引出pin的via很难跟其他模块连接或者检查;
简单说来我想问一下,版主们在平常设计中如何对IO约束的,除了IO文件上面我说的那些,还有对于VIA孔的约束有哪些呢?能说一下吗?我在论坛里确实很少看见有对VIA孔进行优化的,特别是IO上的VIA孔的约束



对以上内容的关注,表示谢谢!
 楼主| 发表于 2014-1-8 09:08:40 | 显示全部楼层
顶顶~~~~
发表于 2014-1-8 10:21:32 | 显示全部楼层
貌似IO直接拉线出来,然后打孔,在IO上面是不打孔的。
发表于 2014-1-8 14:27:31 | 显示全部楼层
回复 3# haihai8595


    你们平时对VIA如何优化的呢?
发表于 2014-1-9 09:05:26 | 显示全部楼层
顶顶!!!!
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-22 16:27 , Processed in 0.023908 second(s), 10 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表