关于基于scan的dft链长的问题？

531472320 · 发表于 2013-3-1 13:24:53

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求助：设计中由于pin 脚不够，扫描链上的dff太多，8000多个。这样是不是太多了些？会造成什么影响呢？一般多少最合适

jimin_qu · 发表于 2013-3-1 14:19:21

请问您设计中DFT用多块的时钟？

531472320 · 发表于 2013-3-1 15:00:29

回复 2# jimin_qu

就一个测试时钟，大约有5W多个DFF

toad · 发表于 2013-3-1 16:11:43

多了就是覆盖率第一点，测试时间长一点，其他没有啥吧

jimin_qu · 发表于 2013-3-2 11:52:20

你测试时钟是多少兆的？测试时间太长费用不是太高吗，不能降下覆盖率吗

supercainiao · 发表于 2013-3-2 12:03:59

可以做EDT吧，里面分成多条链

jimin_qu · 发表于 2013-3-2 16:34:17

回复 6# supercainiao

EDT是什么？测试设备吗？为什么用EDT测就解决这个问题了？谢谢

supercainiao · 发表于 2013-3-2 23:17:28

回复 7# jimin_qu

Mentor的DFT方法，压缩测试，外部测试pin并不增加，里面会分成并行的多条链，所以每条链的长度得以减小，测试时间取决于最长的那条链，测试向量也是经算法压缩的

jimin_qu · 发表于 2013-3-3 23:09:37

回复 8# supercainiao

非常感谢

531472320 · 发表于 2013-3-6 09:04:08

回复 5# jimin_qu

测试时钟为20M。链太长会不会导致产生的pattern，在测试的时候影响测试的准确率，比如本来电路制造上没有缺陷，但是测试结果不正确

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