在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 3033|回复: 3

[求助] 带隙基准电路的稳定性如何提高

[复制链接]
发表于 2012-12-26 18:54:35 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
我最近做了一个一级放大的带隙基准电路,在用stb(把IPRB接在运放的正向输入端)测试其稳定性时,相位裕度只有34度,增益只有十几db。我在单独仿真一级运放时,增益可以达到50db,相位裕度很高的。现在我就想是不是我的仿真方法有问题?
请做过带隙电路的同行们赐教!
发表于 2012-12-26 21:31:55 | 显示全部楼层
回复 1# hualeizhang_wu


    IPROBE要放在运放的输出
 楼主| 发表于 2012-12-27 09:02:35 | 显示全部楼层
回复 2# nan123chang


   嗯,谢谢您!
发表于 2014-1-20 02:52:46 | 显示全部楼层
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-17 14:48 , Processed in 0.024145 second(s), 10 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表