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楼主: liuyunwujia

为什么scan跑的频率不能很高呢?

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发表于 2011-12-5 11:44:28 | 显示全部楼层
测试pattern的第一个scan-capture周期灌入的是0011001100110011.。。。流,用来测试scan-chain有没有问题,然后才开始灌入真正的测试向量
发表于 2011-12-8 18:09:56 | 显示全部楼层
发表于 2011-12-14 16:26:42 | 显示全部楼层
学习中,貌似都是跑在不高的频率上。
发表于 2011-12-14 17:51:54 | 显示全部楼层
ac-scan可以跑到和functional 一样快。。
但同种模式下,如果不同频率的clock多的话,必然会影响到test coverage...
发表于 2011-12-15 08:40:59 | 显示全部楼层
回复 11# cheernixue


    有的工具chain test默认pattern是00110011……,但是一般也可以自定义。
发表于 2011-12-15 15:14:02 | 显示全部楼层
主要还是chip IO不支持外部高的时钟,从外面送的时钟频率高了噪声比较大,如果可以送高时钟当然是希望ATE送高时钟,高端的ATE是可以跑得很快的,低端的可能ATE本身就没有高频率。

At-speed test有时候频率也不能和functional frequency一样,因为testing的时候chip power可能比functional mode下大很多,会损坏chip. 所以可能频率会降低,或者对scan pattern有要求。

stuck at fault属于静态fault所以用低频的clock对ATE要求可以比较低,便宜一些。
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