后端面试--每日一题（029）

ttder

答案太快了吧。留个2-3天。
一般说来，at-speed 肯定setup 。
scan 很慢肯定是 hold 问题。

上次和几个高手聊了下，65/45 nm 问题最大还是 test 时 IRdrop issue.
scan 下大家都在翻转，ir drop 如何科学地解决？

papertiger 发表于 2011-6-15 15:27

                               
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  芯片比较大的时候，为了防止ir drop在scan模式下太大。我们需要做一个Hier的dft flow.简单来说，就是分block来进行测试。
在同一时刻只会有一个block来做测试。我说的这个block是很大的那种，好比芯片400w门，你大概分为4个block.
   每个block都会有自己的压缩解压缩模块。mentor叫edt。然后顶层再有一个edt模块。 这种方法的优点是对ir drop有好处。
缺点是增加测试成本，而且会损失掉一些覆盖率，就看如何取舍了。

陈涛

scan mode下IR drop大是个普遍存在的问题，本来想作为一个问题问的，你既然提到，就在这里讨论了。

解决方法之一是使用多个scan clock，而且特意不平衡它们之间的insertion delay

ttder

这个要从每个SDC的特点着手，个人经验，与设计有关，不敢保证使用与所有设计。
1) scan shift：速度很慢，不用太担心setup，但是hold很重要，一旦hold有问题，所有与scan有关的测试全泡汤
2) scan capture：也是慢速，但是会有很多hold出来，特别是在不同的function时钟之间
3) scan at-speed：高速，解决了它的setup，其他DFT的setup基本上就连带着解决了
4) mbist at-speed：高速，但是涉及的逻辑不多
5) jtag：慢速，很容易与function SDC合并

所以结论是
MMMC setup：function + scan at-speed
MMMC Hold: function + scan shift + scan capture + jtag与所有设计。
...
陈涛 发表于 2011-6-15 10:28

                               
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  陈老大说的很对。
  还有一点我补充一下，上述分类的基于一旦置起scan-mode，并且在快速时钟下，就能进入as-speed模式了。一旦置起scan-mode
scan-enable,就能进入shift下了。所以为了我们的sdc能够尽量少，我们一定要在design的spec开就就要给前端提出这种需求。各个模式的进出要定义干净。
   还有一点，如果遇到有同沿去踩，通过clock latency来保证setup和hold的电路的话，那么我们一定要在camx和cmin都要检查setup和hold,因为会有非线性的问题。

damonzhao

我顶上去吧
很有帮助

lz1920

回复 8# 陈涛


    恩，MCMM的flow好像是比较难run的，而且好像要注意的东西多一些，没run过，只是听说过。


    还有哈，那个头像呢，是我堂妹。。。哈哈

lz1920

回复 9# paulszicc


    多年以后如果我有了儿子，你还说这句话的话，我一定非常感谢，但是像我刚本科毕业一年的，连个女朋友都木有，哪来的儿子哈。

八部众生

回复 11# ttder


    这只是一般的做法，但事实上这种方法也是有问题，就单个的block而言，其current也是很惊人的。

    新的DFT工具可以在全局范围内取舍，调整pattern，实现较低的/散列的翻转。

ttder

回复  ttder


    这只是一般的做法，但事实上这种方法也是有问题，就单个的block而言，其current也是 ...
八部众生 发表于 2011-6-18 21:30

                               
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    能否请兄弟推荐一些相关文档看看，看来我得知有点过时了。
   不过我还是有点疑问的，如果q-si的测试，不管你如何选pattern,都是基本上在同一时刻反转的吧，这时候反转率应该是100%啊，dft工具怎么考虑这件事情。

lz1920

回复 12# 陈涛


    一般来说stack at测的时候都是慢freq的，所以相对来说power 应该不会比func的时候大吧？而在at speed的时候，基本测的都是func的逻辑，但是覆盖率就没那么高，貌似是说其power和func的差不多，所以只要func的过了，在at speed的时候，也基本是能过的。但是mbist就不一样，power值会很大的，现在的design memory都不少，所以在测mem的时候，power会非常的大，解决测mem时的IRdrop好像才算是比较难的吧，像陈老大说的，用多个scan的话，岂不是在fix hold的时候，会麻烦很多？而且在做clock tree的时候，有多少个scan clock就至少得调多少个floating value，那对cts就增加好多工作量了。不过陈老大应该还有更好的解释吧，我没做过DFT，对DFT仅限于旁听，希望老大多多指教！

陈涛

跑MBIST时，可以分成几个group跑，一起跑在memory上一定会有较大的IR-drop