ATE上使用的pattern如何产生？

船长之王 · 发表于 2006-12-13 14:19:17

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我根据TetraMax的手册使用run atpg -auto（参照手册里的一篇脚本模板）产生的pattern后，直接使用nc生产的vcd文件给ATE，但是发现有很多问题。
不知道大家一般都是怎么做的，谢谢指教！

chris_li · 发表于 2006-12-14 10:53:03

这位兄台，ATPG Scan可以生成.WGL Pattern,把这个pattern丢给专用软件就可以自动转成Target ATE format，而无需再通过NC生成VCD，这个软件一般是专门为ATE设计使用的。而对于你要测试的功能类pattern，似乎目前只能通过NC生成VCD再转，而且需要人为参与比较多，后期的调整是经常的。

船长之王 · 发表于 2006-12-14 14:55:21

感谢chris_li的答复。

再请教一下你说的ATPG Scan是值TetraMax的命令还是DFT Compiler的命令，或者是别的什么？
另外你所说的将pattern丢给专用软件，是否这个软件一般会由ATE那边的人员提供这些服务？
最后，如果这个pattern直接给ATE，它的期望值是如何得到的？它总是需要通过调入netlist和测试向量，再通过仿真才能得到吧。这一步是在哪里实现的？

谢谢！

chris_li · 发表于 2006-12-14 17:03:01

再请教一下你说的ATPG Scan是值TetraMax的命令还是DFT Compiler的命令，或者是别的什么？
A：ATPG Scan不是命令，我是拿scan chain做ATPG为例说明，生成pattern的环节在TeraMax做。
另外你所说的将pattern丢给专用软件，是否这个软件一般会由ATE那边的人员提供这些服务？
A：软件有的是是ATE公司自己研发的，也有可能是第三方软件公司开发的，总之你如果租用可能会有license费产生。你计划使用那个tester啊？
最后，如果这个pattern直接给ATE，它的期望值是如何得到的？
A：Pattern本身是Stimulus和Expected Response的集合，期望值已经在pattern里了，Program会将Stilmulus灌如IC，期望值会被调到Compare的memory里等待和Output比对！
它总是需要通过调入netlist和测试向量，再通过仿真才能得到吧。这一步是在哪里实现的？
A：不要担心仿真，TeraMax可以生成STIL的VerilogTestbench(.v)和Vector(.pos,.pis)供你仿真使用

risccpu · 发表于 2007-1-15 14:57:10

chris_li的回答很精彩，牛人啊

clifming123 · 发表于 2007-11-11 03:14:30

niuren

towcar · 发表于 2007-11-14 15:27:52

受教！

谢谢！

magicball · 发表于 2007-11-19 14:20:00

Use VTRAN to convert ATPG WGL pattern to Aglient 93K format

liuyunwujia · 发表于 2008-2-24 14:14:43

我们公司通常是自己使用PERL来转换VCD或者STIL文件的,
但是转换的程序不通用

stevelu1966 · 发表于 2009-6-8 18:23:36

I always use VTRAN to convert the WGL scan and VCD function pattern to any kind of ATE test platform, It is hard to write the PERL for the pattern conversion,

ATE上使用的pattern如何产生？

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用PERL自己写程序转换

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